Big Data Analytis in der Elektronikfertigung
Status:
Projektstart 24.06.2016
Beschreibung:
Definition von möglichen Ereignissen, die zu einem Fehler führen können – Aufbau eines Testscenarios mittels einem digitalen Zwilling – Erhebung von Korrelationen mittels Data Analytics
Aus den im MES (Manufacturing Execution System) vorliegenden Daten wird mittels BigDataAnalytics eine Ereignisabhängigkeit ermittelt. Diese werden sukzessive durch weitere Sensordaten angereichert um die Fehlerabhängigkeit weiter zu spezifizieren. Zum Testen von Extrembedingungen wird ein digitaler TestZwilling erstellt, an dem die Produktionsbedingungen simuliert werden können. Ziel ist es, die qualitätsrelevanten Wartungsintervalle produktionsspezifisch so zu steuern, dass eine höhere Qualität und eine störungsfreie Produktion gewährleistet werden kann.
Big Data Analytics in der Elektronikfertigung „Automatische Fehlerursachenanalyse zum Tombstone Effect“: Wie können die aufwendigen Wartungsintervalle am Pastendrucker und am Bestücker so in die Produktion integriert werden, dass der größtmögliche Qualitätsgewinn bei möglichst geringer Unterbrechung der Produktion erfolgt?
Die Fehlerbehebung eines Tombstone Effect kostet ca. 6,- € . In einer Vorserienfertigung kann das Kosten von ca. 30.000,- € bedeuten. Darf der Fehler nicht behoben werden, wie z.B. von Automobilindustrie vorgegeben können sich die Kosten auf das 10-fache potenzieren. Die drei häufigsten Fehler in der Leiterplattenbestückung sind der Tombstone Effect, Zinnschluss, Positionierung ungenau, Fehlen eines Bauteils.
Zielsetzung:
- Vorhersage von Wartungsintervallen zur Qualitätssteigerung (Fehlervermeidung) / Predictive Maintenance
- Wiederverwendbarkeit der Lösung für weitere Optimierungsschritte
- Verbesserung der Visualisierung der Arbeitsschritte für die Werker
- Bessere Vernetzung der Informationen
- Effizienz
Nutzen:
- Verbesserung der Mensch-Maschine-Kommunikation (Sprachsteuerung)
- effizientere Verrichtung der Arbeit mit verbesserter Qualität durch bedarfsgerechte Bereitstellung aktueller, aufgabenrelevanter Informationen unter Berücksichtigung der MA-Qualifikation
- Bereitstellung von MA-Erfahrungen
- weiterer Nutzen: Prozessführung. Prozessverriegelung, transparente Nachverfolgbarkeit / Nachweisführung und Dokumentation
Teilnehmer:
- Dualis: Heike Wilson
- iTAC: Dieter Meuser & Bernd Kremer
- Fuji: Jonas Ernst
- Limtronik: Gerd Ohl
Hochschulen:
- FH-Zwickau: Christoph Laroque
- THM: Diethelm Bienhaus & Gerrit Sames & Torsten Groß
Meilensteine und Leistungen:
Projektleitung: Gerd Ohl
Nächster Meilenstein: Auswerten weiter Daten und Erstellung von Korrelationsanalysen.
